Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE/RoHS /ELV法令，快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。

Horiba X射线荧光分析仪技术参数：
★   Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm
★   使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析
★   采用大型试样室（460X360X150㎜） 
★   试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并真正实现无损检测
★   可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内首家！X射线?光学同轴照射）
★   测定可一键实现简单操作 
★   自动元素干扰修正、厚度补偿
★   数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能