产品介绍
AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统
价 格:¥电议
型 号:V1.0
产品完善度:
生产地:其他访问量:425次
发布日期:2009/11/2 0:00:00
更新日期:1900/1/1 0:00:00
详细内容
功能列表:
1)软件系统内容清单:视图部分
01-顶视图 02-三维视图 03-游览 04-多重视图
2)软件系统内容清单:分析部分
05—剖面分析 06—阶梯分析 07-深度分析 08-Bearing分析 09-颗粒分析
10-粗糙度分析11—宽度分析 12-自相关分析 13-功率谱分析 14—功率谱比较
15—Bearing比较
3)软件系统内容清单:变换部分
16—图像平整(Flatten)17—低通滤波 18—高通滤波 19—清除噪声线
20—图像缩放(Zoom) 21—图像缩放(Resize)22—选择区域截取23—图像相减
24—图像反转 25—图像旋转 26—平面拟合(Plane Fit)A27—边缘增强
27(b)—边缘检测:这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的 28—二维功率谱
29—高斯滤波 30—中值滤波A31—卷积
4)辅助性工具
32—设置颜色 33—屏幕输出到文件, 到打印机打印输出
1)软件系统内容清单:视图部分
01-顶视图 02-三维视图 03-游览 04-多重视图
2)软件系统内容清单:分析部分
05—剖面分析 06—阶梯分析 07-深度分析 08-Bearing分析 09-颗粒分析
10-粗糙度分析11—宽度分析 12-自相关分析 13-功率谱分析 14—功率谱比较
15—Bearing比较
3)软件系统内容清单:变换部分
16—图像平整(Flatten)17—低通滤波 18—高通滤波 19—清除噪声线
20—图像缩放(Zoom) 21—图像缩放(Resize)22—选择区域截取23—图像相减
24—图像反转 25—图像旋转 26—平面拟合(Plane Fit)A27—边缘增强
27(b)—边缘检测:这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的 28—二维功率谱
29—高斯滤波 30—中值滤波A31—卷积
4)辅助性工具
32—设置颜色 33—屏幕输出到文件, 到打印机打印输出