Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统是满足您上述需求的新型分析工具。此系统将高质量图像和具有统计意义的颗粒形状、大小测量方法组合在一起。

我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统功能强大且直观的数据分析工具，可确保您从测量数据中获得丰富的结果。

• 颗粒大小： Morphologi G3 使用不同的放大倍数确保对整个颗粒大小范围 （0.5µm – 3000µm） 的高分辨率，可使用圆当量直径参数精确测量颗粒大小。
   
• 颗粒形状：可计算各种颗粒形状参数，例如延伸度、圆度和凸起度等。这些参数可识别和量化样本间的细微差别，而那些只能测量颗粒大小的技术则无法识别这些不同。
   
• 颗粒数量和杂质颗粒检测：实际上，样本中的所有颗粒都可以被单独测量并记录，这使得图像分析系统能够出于某些目的（例如颗粒杂质检测）计算某类颗粒的数量。

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统简介：

• 完全集成的干粉分散剂： 我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。
   
• 统计意义： 只需单击一下鼠标，便可分析成千上万的颗粒！
   
• 消除用户偏差：标准操作程序 （SOP） 方法可客观地记录和控制所有仪器参数（例如，焦距、光线强度、放大倍数）。在一台仪器上开发的方法可通过单一电子文件进行全局传送。
   
• 保存高质量图像： 对每个单一颗粒图像都能进行观察和记录，从而可目视验证破裂颗粒、凝聚物、精细颗粒和杂质颗粒等的存在。
   
• 精确、可重复和“可验证”：为确保数据的一致性，图像分析系统在每次颗粒分析前后，都要使用 NPL（National Physical Laboratory，英国国家物理研究所）的多段光栅可跟踪技术进行自动校准。此图像分析仪符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ（安装认证/操作认证）文档。