☆产品简介
济南微纳颗粒技术有限公司开发的颗粒图像分析产品，将颗粒分析理论与计算机图像学完美结合。使用改装的显微镜系统，配合高清晰摄像机，将颗粒样品的图像直观的反映到电脑屏幕上，再使用自主开发的软件对其进行颗粒大小、形状、整体分布等属性的计算，并可以将测试结果输出为报告。本产品采用直观的图像分析法原理，把颗粒属性直接计算出来，不但可以得到颗粒的各项参数值，而且用户还可以直观的看到颗粒的形貌，并获得其他仪器无法获得的“球型度”、“长径比”等颗粒形状描述参数，既可以辅助激光粒度仪也可以独立完成颗粒测试任务
☆ 性能特点
◆直观反映颗粒形貌：将颗粒的现时型貌反映到电脑显示器上，使用户能够直观的看到，更全面的了解颗粒的属性。
◆形状参数计算，分辨特形颗粒：可得到颗粒样品的球型度与长径比数据，轻易分辨出针状颗粒与其他特形颗粒。
◆图像拼接功能，增强数据代表性：增加了图像拼接功能，可以讲多幅图像拼成一幅，大大增加了参与分析的颗粒数量，增强了数据的代表性。
◆自动图像处理功能；按一次键即可完成全套图像处理和颗粒分析操作，简单 快捷，统一规范。
☆技术参数
仪器型号 Winner99 Winner99-D
特 点 静态颗粒图像分析仪
物镜 4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组
目镜 1X、10X、16X 大视野摄像目镜
测试范围 1-6000μm
成像元件 1/3英寸CCD 1/1.8英寸progress scan CMOS
分辨率 800X600 2048X1536
准确性/重复性 <5%
分散方式 玻片制样
整体分布特征参数 D10、D50（中位径）、D90等颗粒分布特征参数
统计方式 按数量、体积、面积等方式分析颗粒的频率、累计分布
统计平均径 Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径
形状参数 长径比、庞大率、球型度、表面率等
输出方式 图形采集卡视频接口 USB2.0标准接口
体 积 60mm×240mm×500mm
重 量 10kg