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仪高南仪器(深圳)有限公司

产品介绍

韩国Micr Pioneer 系列荧光金属镀层测厚仪

价 格:¥电议

型 号:XRF-2000

产品完善度:

生产地:其他访问量:199次

发布日期:2009/11/2 0:00:00

更新日期:1900/1/1 0:00:00

详细内容

可测元素范围:

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

X-射线管:油冷,超微细对焦

高压:0-50KV(程控)

准直器:

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统:IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

 

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