产品介绍
X-Ray高解析度无损探伤仪
价 格：￥电议
型 号：View-X
产品完善度：
生产地：其他访问量：197次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。
View X为X光机系列中的一组或称为手动型探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（View X -1000），并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。 1、可达130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。
2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3、采用激光笔辅助样品定位。
4、X光管的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
5、X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
6、载物台可作±60°倾斜。 |
型号 | 经济型E80/100/130 | 豪华型L80/100/130 | 光管 | 光管类型 | 封闭管 / Sealed tube | 光管电压 | 80kV、100KV、130KV | 光管电流 | 0.15mA | 光管聚焦尺寸 | 4.5-7um | 冷却方式 | 风冷 / air cooling | 几何放大倍率 | 125X | 载物台 | X轴 | 400mm | 450mm | Y轴 | 400mm | 400mm | Z轴 | 270mm | 340mm | 旋转 | ±60° | 增强屏 | 视场 | 4/2 inch | 解析度 | 75 lp/cm | X-Ray外壳 | 尺寸 | 1450＊1400＊1750mm | 1635＊1240＊2180mm | 重量 | 约770 kg | 约650 kg | 电源 | 供电方式 | AC110-230VAC, 50/60Hz | 计算机 | 品牌 | 3DFAMILY | 操作系统 | Windows®XP | 显示器 | 17”CRT / LCD | CPU | Intel Pentium IV | 工作环境 | 温度 | 0-40℃ | 辐射安全标准 | 美国FDA安全辐射标准 | 保修期 | 一年保修 |
|
