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科睿技术发展有限公司

产品介绍

光干涉薄膜测厚仪

价 格:¥电议

型 号:

产品完善度:

生产地:其他访问量:253次

发布日期:2009/11/2 0:00:00

更新日期:1900/1/1 0:00:00

详细内容

应用领域
理论上讲,我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们熟悉的应用领域(半导体薄膜,光学薄膜涂层,在线原位测量,粗糙或弧度表面测量):
□      晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...);
□      晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...);
□      DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层;SOI硅片;
□      MEMs厚层薄膜(100µm up to 250µm);
□      DVD/CD涂层;
□      光学镜头涂层;
□      SOI硅片;
□      金属箔;
□      晶片与Mask间气层;
□      减薄的晶片(< 120µm);
□      瓶子或注射器等带弧度的涂层;
□      薄膜工业的在线过程控制;等等…
 
软件功能hspace=0
丰富的材料库:操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据,基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。
软件操作简单、测速快:膜厚测量仪操作非常简单,测量速度快:100ms-1s。
软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。
软件带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预先模拟设计。
软件带有可升级的扫描功能,进行薄膜二维的测试,并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

硬件升级
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多通道测试,多支持8个独立的同时测试                       6英寸、12英寸扫描样品台
 
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         RTL透明样品专用夹具                           用于曲面结构的CSH探头
 
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            显微镜配适器

不同型号及规格
NanoCal-VIS           波长400 -850 nm, 膜厚50 nm.-20 μm (如SiO2 on Si)
                               分光计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-NIR           波长650 -1100 nm, 膜厚70 nm.-70 μm
                               分光计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-VIS/NIR    波长400 -1100 nm, 膜厚50 nm.-100 μm (选配1um-250um)
                               分光计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-UV/VIS      波长250 -850 nm, 膜厚10 nm.-20 μm 
                               分光计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-FULL         波长250 -1100 nm, 膜厚10 nm.-70 μm
                               分光计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-NIR-HR     波长700 -978 nm, 膜厚1um-250um(选配400um),高分辨分光
                               计,A/D转换器,USB和RS232接口,卤素光源,反射探针,软件
NanoCal-512-NIR    波长900 -1700 nm, 膜厚50 nm.-200 μm  InGaAs-512阵列分光                                 计,A/D转换器,USB和RS232接口,高能卤素光源,反射探针,软件

NanoCal 软件                单层膜测量、模拟、分析,支持Windows环境;
NanoCal MS 软件          多层膜测量、模拟、分析,支持Windows环境
NanoCal Mapping软件   配合6”或12”扫描台使用,完全3D数据;
NanoCal Online软件      在线原位分析软件;
NanoCal Remote软件    远程控制软件模块

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