产品介绍
3U PXI高性能动态数字I/O和PMU
价 格:¥电议
型 号:GX5295
产品完善度:
生产地:其他访问量:10次
发布日期:2017/9/13 14:02:00
更新日期:2017/9/13 14:02:00
详细内容
产品特点
32路输入输出通道,可以在每个通道上动态配置
4个可编程电平的控制/定时通道
256MB板载矢量内存
每通道驱动/感测电压范围为-2V至+7 V,每个引脚为PMU
100 MHz测试速率
激励/响应和实时比较模式
适用于基于PXI的半导体测试
概述
GX5295采用紧凑型3U PXI外形尺寸提供卓越的数字测试功能和通道密度。提供性能数字和模拟测试功能,GX5295为每个引脚架构提供了具有成本效益的测试仪,使该卡成为高吞吐量混合信号组件测试应用的理想选择。每个数字通道可以单独编程为驱动器,驱动器,感测信号,感测电流和负载值(具有换向电压电平)。 此外,每个通道提供参数测量单元(PMU),为用户提供在DUT(待测设备)上执行并行直流测量的能力。
GX5295支持深度模式存储器,提供256 MB的板载矢量内存,动态每个引脚方向控制,测试速率高达100 MHz。该板支持激励/响应和实时比较操作模式,允许用户限度地提高测试吞吐量,以便对需要深度内存测试模式的组件和UUT进行不间断测试。 单板设计支持主和从功能,无需使用附加模块。
特征
GX5295的引脚电子资源在每个通道基础上是独立的,并且包括用于DUT的DC特性的全功能PMU。PMU可以执行强制电压/测试电流或强制电流测试电压的模式。此外,驱动器和接收器可以配置为支持来自/到UUT的差分输入和输出信号。 一种开窗方法用于存储器访问,这将每个板的所需PCI存储器空间限制为仅16 MB,从而保留测试系统资源。还支持直接模式,用于测试系统控制器与GX5295的I / O引脚之间的连续数据传输。
GX5295提供256 MB的矢量内存,每通道64 Mb。可编程I / O宽度允许矢量深度的交易矢量宽度。 在软件控制下,GX5295的向量存储器可以配置为支持32,16,8,4,2和1的通道宽度,对应的矢量深度为64 Mb,128Mb,256 Mb,512 Mb,1024 Mb和2048 Mb。
GX5295提供可编程LVTTL输出时钟和选通,并支持外部时钟和频闪。可编程PLL(锁相环)提供可配置的时钟频率和延迟。 另外,另外4个额外的引脚电子资源可用作定时和/或控制资源—提供从-2到+7V的可编程驱动和感测电平。
GX5295的音序器可以通过整个内存定义的地址或循环停止或暂停,也可以在定义的地址范围或定义的内存块上循环。还支持两种模式的数字测试 - 激励/响应和实时比较模式。 激励/响应模式用于驱动和捕获数据。 或者,对于需要长测试向量的数字测试,实时比较模式可用于通过实时,预期测试结果和仅记录故障向量和合成测试结果(通过或失败)进行比较来显着缩短总体测试时间。
软件
GX5295随DIOEasy一起提供,它提供强大的图形矢量开发/波形显示工具,以及虚拟仪表板,32位DLL驱动程序库和文档。虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式地控制和监视仪器。 此外,各种接口文件可以访问仪器的功能库,用于编程工具和语言,如ATEasy,C / C ++,Microsoft VisualBasic®,Delphi和LabVIEW。
可选地,DtifEasy可用于使用GX5295。 DtifEasy提供了一个完整的LASAR后处理器和测试执行环境,用于后处理和执行LASAR生成的.tap文件。
自动测试设备(ATE)
半导体测试
显示器,打印机和磁盘驱动器测试
ASICs测试
A/D和D/A测试
视频采集/播放应用
高速,双向总线测试/仿真
规格
I/O通道规格 | |||
数据I/O通道数量 | 每卡32通道 | ||
附加I/O通道 | 4,可用于定时/控制功能。 辅助通道提供数据通道支持的所有功能,包括每个无矢量存储器的通 道的PMU。 | ||
通道方向控制 | 每通道输入或输出 | ||
驱动和感应电压参考数量 | 32驱动电压高/低 32感测电压高/低 | ||
驱动电压 | 驱动高:-2V—+7V 驱动低:-2V—+7V 摆动值:8V | ||
驱动电压准确度 | ±20mV(值) | ||
驱动电压分辨率 | 16位,250μV | ||
驱动漏电流 | ±15nA() | ||
输出阻抗 | 50Ω | ||
驱动电流 | ±35mA(小) | ||
上升/下降时间 | 2 V脉冲典型值为0.5 ns | ||
频道偏移 | 160 ps,通常在相同的卡之间320 ps max,校准后,用于所有通道(驱动和感测) | ||
驱动数据时钟 | 数据相对于Clk0:4 ns的上升沿有效。 时钟和选通延迟设置为0 ns。 数据相对于EXCLK的上升沿有效:31 ns。 时钟和选通延迟设置为0 ns。 | ||
可编程通道偏移 | 相对于测试时钟,每个通道的编程偏移量为2.5 ns; 200 ps的分辨率(驱动和感应可以独立编程) | ||
感测电压范围 | 感测高:-2V—+7V 感测低:-2V—+7V | ||
感测电压阈值精度 | ±15mV | ||
感测电压分辨率 | 16位,250μV | ||
输入漏电流 | ±15nA() | ||
数据感测脉冲宽度小值 | 1.0ns | ||
数据感测时钟 | 获取相对于内部频闪的数据: 建立时间:18 ns(Ostb输入数据) 获取相对于外部频闪的数据: 建立时间:-9 ns 时钟和选通延迟设置为0 ns。 | ||
上拉/下拉电流源/接收器 | ±24 mA,可在每通道基础上编程V整流:-2 V至+7 V,可根据每个通道进行编程 | ||
上拉/下拉电流源/接收器准确度 | ±64μV | ||
上拉/下拉电流源/接收器分辨率 | 16位 | ||
电压变向精度 | ±15mV | ||
电压变向分辨率 | 16位 | ||
内存 | 每通道64Mb到2Gb | ||
测试类型 | |||
激励/响应 | 驱动/比较数据与预期数据模式 每个周期的预期和掩码数据 | ||
实时比较 | 驱动/捕获数据,每个通道高达64 Mb | ||
实时比较记录内存 | 1024个记录存储器比较数据和程序步骤 | ||
实时比较停止模式 | 停止定义的错误计数(为1024),记录失败的向量和地址位置 停止定义的错误计数,在停止错误计数之前记录高达1 K的数据 停止定义的比较数据值 停止定义的程序计数器值 | ||
时钟 | |||
内部测试时钟(PLL) | |||
频率范围 | 1Hz(小);100MHz() | ||
可编程分辨率 | 5个数字位 | ||
准确度 | (±1 Hz或±0.02%的编程值)+参考时钟精度(PXI 10 MHz或外部参考时钟) | ||
抖动 | ±20 mUI内部时钟频率 | ||
可编程延迟内部选通和输出时钟信号 | 0-3和4-7和8-11和12-15 ns,16-19 ns,20-23 ns,24-27 ns; 每个范围内250 ps步长(仅使用内部时钟源) | ||
参考 | PXI 10 MHz时钟或XClk(外部时钟)输入 | ||
内部B时钟输出(LVTTL) | |||
频率范围 | 300KHz(小); 100MHz() | ||
可编程分辨率 | 5个数字位 | ||
准确度 | (±1 Hz或编程值的±0.5%)较大值+参考时钟的精度 | ||
外部输入测试时钟 | |||
(配置为采样时钟) | 0Hz(小); 100MHz() | ||
频率范围 (配置为PLL的输入) | 8MHz(小); 10.5MHz() | ||
脉冲宽度 | 40%(小); 60%() | ||
输入电平 | LVTTL或可编程电平,使用四个Aux引脚电子通道之一。 | ||
外部频闪时钟输入 | |||
频率范围 | 0Hz(小); 100MHz() | ||
逻辑电平 | LVTTL或可编程电平,使用四个Aux引脚电子通道之一。 | ||
外部状态和控制信号 | |||
逻辑电平 | LVTTL或可编程电平,使用四个Aux引脚电子通道之一。 | ||
触发资源 | 软件,PXI触发总线,外部事件,外部触发输入(覆盖运行命令) | ||
外部测试时钟使能 | 内部(软件),外部输入(通过J3连接器) | ||
外部频闪时钟使能 | 内部(软件),外部输入(通过J3连接器) | ||
外部时间总线 | 8路输入线与掩码和逻辑和条件 | ||
暂停 | 外部暂停输入覆盖暂停命令 | ||
暂停延迟 | 暂停后取消数据10个时钟周期 | ||
运行 | 运行状态指示灯(J3连接器) | ||
参数测量单元(PMU) | |||
参数测量单元数量 | 32个,每个DIO通道一个 4个,每个附件通道一个(用于时钟/控制&静态I/O功能) | ||
配置 | 强制电压/测量电流(FVMI) 强制电流/测量电压(FIMV) 强制电压/测量电压(FVMV) 强制电流/测量电流(FIMI) | ||
强制电压范围 | -1.5V到+7V | ||
强制电压精度 | ±20mV | ||
强制电压分辨率 | 16位 | ||
强制电流范围 | ±32 mA,±8 mA,±2 mA,±512 uA,±128 uA,±32 uA,±8 uA,±2 uA FS | ||
强制电流精度: 合规范围: + 1.75V至+ 7V @ 32 mA -1.5V至+ 7V @空载 | ±120 uA,32 mA范围 ±40 uA,8 mA范围 ±5 uA,2 mA范围 ±1.2 uA,512 uA范围 ±600 nA,128 uA范围 ±160 nA,32 uA范围 ±80 nA,8 uA范围 ±20 nA,2 uA范围 | ||
电流测量 精度(60测量值/秒) 合规范围: + 1.75V至+ 7V @ 32 mA -1.5V至+ 7V @空载 | ±120 uA,32 mA范围 ±40 uA,8 mA范围 ±5 uA,2 mA范围 ±1.2 uA,512 uA范围 ±600 nA,128 uA范围 ±160 nA,32 uA范围 ±80 nA,8 uA范围 ±20 nA,2 uA范围 | ||
测试电压范围 | -2V到+7V | ||
测试电压精度 | ±1 mV(测量速率<200次/秒) | ||
高和低换向电压范围 | VCLo: -2 V to +5 V VCHi: 0 V to +7 V | ||
电压钳位精度 | ±100 mV | ||
电源(空闲和初始化) | |||
+3.3VDC | 4.8A | ||
+5 VDC | 1.48A | ||
+12 VDC | 0.25A | ||
环境 | |||
操作温度 | 0 °C to +55 °C | ||
存储温度 | -20 °C to +70 °C | ||
大小 | 3U PXI | ||
重量 | 200g | ||
前面板连接器 | |||
J1 | 数字I/O信号,标准68针VHD连接器 | ||
J3 | 时钟&控制信号,标准68针VHD连接器 | ||
*注:规格如有更改,恕不另行通知
订购信息:
GX5095 | 动态数字I / O(3U),32引脚电压和方向控制; 100 MHz w / 256 MB内存; 每个引脚PMU |
软件 | |
DIOEasy | 数字I / O控制软件,包括矢量发生器和矢量比较 |
DIOEasy-FIT | DIOEasy文件导入工具套件将STIL,WGL,VCD / EVCD文件转换为Marvin Test Solutions GX529x和GX5055数字I / O卡的数字文件格式 |
DIOEasy-FIT-UG | 升级为DIOeasy文件导入工具包 |
DIOEasy-DS | 2天的Marvin Test Solutions(Irvine,CA)的DIOEasy培训1-3人。 |
DIOEasy-DS2 | 现场为期2天的DIOEasy 1到3人培训研讨会。 |