产品介绍
低温储试验（IEC68-2-2)恒温恒湿试验--时恒电子
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发布日期：2017/3/23 11:23:31
更新日期：2017/3/23 11:23:31
详细内容
在电子电路中，用NTC热敏电阻进行温度补偿是因为许多元器件（如线圈、晶体振荡器、晶体管、液晶屏等）的特性随着温度的变化而变化，且具有正的温度系数。环境温度的变化会导致电信号的偏移，用NTC热敏电阻器进行补偿后就可以使这些元件在很宽的温度范围内正常工作。
恒温恒湿试验（IEC60068-2-3/UL1434)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于40±2℃，90~95%RH的试验箱中1000小时±24小时。
目视检查：零功率电阻，绝缘电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
绝缘电阻：R≧100MΩ(500VDC)
冷热冲热击试验（箱体式) IEC60068-2-14/UL1434
a.试验条件及方法：
将试验样品置于- 40±3℃低温箱中30min取出于室温5min，再投入85 ±2℃高温箱中30min后取出于室温5min，此为1个周期共计进行1000个周期.
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
低温储试验（IEC68-2-2)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于-40±5℃的低温试验箱中持续
1000小时±24小时
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
时恒电子（http://www.shiheng.com.cn）：热敏电阻、NTC温度传感器
恒温恒湿试验（IEC60068-2-3/UL1434)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于40±2℃，90~95%RH的试验箱中1000小时±24小时。
目视检查：零功率电阻，绝缘电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
绝缘电阻：R≧100MΩ(500VDC)
冷热冲热击试验（箱体式) IEC60068-2-14/UL1434
a.试验条件及方法：
将试验样品置于- 40±3℃低温箱中30min取出于室温5min，再投入85 ±2℃高温箱中30min后取出于室温5min，此为1个周期共计进行1000个周期.
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
低温储试验（IEC68-2-2)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于-40±5℃的低温试验箱中持续
1000小时±24小时
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
时恒电子（http://www.shiheng.com.cn）：热敏电阻、NTC温度传感器
