产品介绍
膜厚仪
价 格：￥200000
型 号：
产品完善度：
生产地：其他访问量：11次
发布日期：2017/3/4 11:23:06
更新日期：2017/3/4 11:26:08
详细内容
膜厚仪
膜厚仪主要特点
测量范围宽，可检测元素范围：Ti22–U92；
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；
精度高、稳定性好；
强大的数据统计、处理功能；
NIST认证的标准片；
全球服务及支持。
膜厚仪参数介绍：
1.X射线激发系统
垂直下照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
2.膜厚仪准直器系统
单准直器组件、多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等
即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等
即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm
测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)
3.膜厚仪样品室
开槽式样品室样品台尺寸610mm x 610mmXY轴移动范围标准：152.4 x 177.8mm<程控> Z轴程控移动高度43.18mmXYZ轴控制式多种控制式任选：XYZ三轴程序控制；XY轴手动控制和Z轴程序控制；XYZ三轴手动控制
4.膜厚仪样品观察系统
高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows XP中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
5.膜厚仪测厚范围
可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品；
样品种类：镀层；可检测元素范围：Ti22 – U92；可同时测定5层/15种元素/共存元素校正；贵金属检测，如Au karat评价；材料和合金元素分析；材料鉴别和分类检测；
多达4个样品的光谱同时显示和比较；元素光谱定性分析。调整和校正功能
系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式
测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能样品台程控功能设定测量点连续多点测量
测量位置预览(图表显示)统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书，数据分组、X-bar/R图表、直图数据库存储功能，
系统安全监测功能，Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器
产品优势：
1.高性能、高精度、长期稳定性
2.快速精确的分析带来生产成本优化
3.精确测定元素厚度
4.优化的性能可满足广泛的元素测量
5.坚固耐用的设计
6.可靠近生产线或在实验室操作
7.生产人员易于使用
X荧光镀层测厚仪CMI900
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
CMI900 X射线荧光镀层测厚仪（膜厚仪）是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
.深圳市谱赛斯科技有限公司___膜厚仪
膜厚仪主要特点
测量范围宽，可检测元素范围：Ti22–U92；
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；
精度高、稳定性好；
强大的数据统计、处理功能；
NIST认证的标准片；
全球服务及支持。
膜厚仪参数介绍：
1.X射线激发系统
垂直下照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
2.膜厚仪准直器系统
单准直器组件、多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等
即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等
即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm
测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)
3.膜厚仪样品室
开槽式样品室样品台尺寸610mm x 610mmXY轴移动范围标准：152.4 x 177.8mm<程控> Z轴程控移动高度43.18mmXYZ轴控制式多种控制式任选：XYZ三轴程序控制；XY轴手动控制和Z轴程序控制；XYZ三轴手动控制
4.膜厚仪样品观察系统
高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows XP中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
5.膜厚仪测厚范围
可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品；
样品种类：镀层；可检测元素范围：Ti22 – U92；可同时测定5层/15种元素/共存元素校正；贵金属检测，如Au karat评价；材料和合金元素分析；材料鉴别和分类检测；
多达4个样品的光谱同时显示和比较；元素光谱定性分析。调整和校正功能
系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式
测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能样品台程控功能设定测量点连续多点测量
测量位置预览(图表显示)统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书，数据分组、X-bar/R图表、直图数据库存储功能，
系统安全监测功能，Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器
产品优势：
1.高性能、高精度、长期稳定性
2.快速精确的分析带来生产成本优化
3.精确测定元素厚度
4.优化的性能可满足广泛的元素测量
5.坚固耐用的设计
6.可靠近生产线或在实验室操作
7.生产人员易于使用
X荧光镀层测厚仪CMI900
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
CMI900 X射线荧光镀层测厚仪（膜厚仪）是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
.深圳市谱赛斯科技有限公司___膜厚仪
