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phoenix v|tome|x s

多功能的高分辨率系统，用于二维X射线检测和三维计算机断层扫描(micro ct 与nano ct))以及三维测量

为达到高度的灵活性，phoenix v|tome|x s可从二者中选择装备：180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射线管和240千伏/ 320瓦的微焦点管. 由于这种独特的组合，该系统是一个非常有效且可靠的工具，应用于对低吸收材料的极高分辨率扫描以及对高吸收物体的三维分析。

特色

主要功能

独特的开放式纳米聚焦-微米聚焦双管组合是可能的（180千伏/ 15 W高功率纳米聚焦X射线管和240千伏/ 320瓦的微米聚焦管）

高达10倍的增加的灯丝寿命，通过长寿命的|灯丝（可选）确保了长期稳定性和系统效率

通过菱形|窗口（可选）以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集

通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器获取的30 FPS（帧每秒）（可选）的快速CT采集和清晰的活动影像

顾客利益

三维测量包用于空间测量，具有极高精度，再现性和亲和力

在少于1小时之内自动生成首件检测记录是可能的

使用软件模块以确保高的CT质量且便于使用，例如

通过点击并测量|CT 用 datos|x 2.0进行高精度可重现的三维测量: 全自动化执行的CT扫描，重建和分析过程

通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内（取决于体积大小）完成更快的三维CT重建。

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