1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。

3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92 。

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

 

实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器。

MicronX可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（Å）至微米（μm）,它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其准确度、精密度和稳定性是的。

世界首创光学准直器0.025mm；集中X-射线光束，强度加强5-8倍；适合较薄镀层测量，测量时间为正常的1/5；配有ZOOM功能，图象可放大至200倍；更新FP方法，适合多层厚度测量。，光束少可达

ZXR/LXR系统：用于小样品的经济型。机械准直器，气体正比探测器。

GXR系统：斑点小，样品量大。GXR能精确测量小至25μm的Sn、Pd和Ag层及小至35μm的Au和Ni层。应用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存等。

VXR系统：真空测量环境（真空导管技术专利），增加灵敏度和测定范围（Al-U）。VXR利用真空技术和尖端的焦耳—汤母逊制冷半导体探测器（140eV，FWHM）。

MXR系统：高性能、高精密、高分辨。利用光学准直器透过元件发出超强的40μm光束，将得到100—1000倍于相同大小光束的机械准直器X-射线荧光的精度。电制冷半导体探测器提供增强的灵敏度和分辨率（220eV，FWHM）。适合用于半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析。

 

适用于五金、电镀、精品首饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量。

二手测厚仪还可以低价出租，租费实惠，按年计算。可以提供美国VEECO、美国热电、韩国XRF2000及日本精工X射线镀层测厚仪的维修和保养服务。供应以下二手设备：

1．美国VEECO X-射线镀层厚度测量仪 型号XRF-4000  XRF-5000等

2．日本精工X-射线镀层厚度测量仪 型号SFT-157  SFT-3000  SFT-7000  SFT-9000等

快速、非破坏性和高精度的贵金属珠宝成品测量仪，可直接得出开金（Karat）值。短期内便能赚回成本的聪明投资。无论你的业务是批发、零售、制造或是提炼回收，都能帮您省回时间和金钱。