产品介绍

XS3DU微量天平

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发布日期：2010/7/14 10:07:01

更新日期：2010/7/28 16:33:25

详细内容

产品介绍

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能，完全满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中佳的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

标准配置

内置称量应用程序

TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置

SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差

可设置多达10个特定功能的快捷键

可定义3个的信息，用于用户和样品标识

内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作

第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件

手动开关门的玻璃防风罩

可更换的显示屏保护盖

下挂钩称量

具有过载保护的称量传感器

显示多种质量单位

差重称量应用程序

计件和百分比称量应用程序

统计应用程序

技术指标

极限值	XS3DU 双量程
称量值	3.1 g
可读性	0.01 mg
称量值	0.8 g
可读性	0.001 mg
重复性（sd） - 加载处	0.006 mg
- 低加载（加载处）	0.005 mg （0.2 g）
重复性（sd） - 加载处	0.001 mg
- 低加载（加载处）	0.0008 mg （0.2 g）
线性误差	0.004 mg
四角误差（加载处）^1）	0.005 mg （2 g）
典型值 ^4）
典型重复性（sd）	0.0005 mg +1.2 x （10^–7）•R_gr
典型微分非线性（sd）	√2x（10^-12）g·R_nt
典型微分四角误差（sd）	1.2 x （10^–6）•R_nt
典型灵敏度偏移（sd）^2）	3 x （10^–6）•R_nt
典型小称量值* （@ U=1 %, 2 sd）	0.1 mg+2.4 x （10^–6）•R_gr
典型稳定时间	< 6 sec
稳定时间	< 10 sec

^1）根据OIML R76
^2）在10到30°C的温度范围内
^3）次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
^4）能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。

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