产品介绍
CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪
价 格:¥1
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发布日期:2017/4/13 10:42:58
更新日期:2017/4/13 10:42:58
详细内容
CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪 常规型
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪
主机参数:
存储量 | 8000字节,非易失性 |
尺寸 | 长×宽×高292.1×270×140mm |
重量 | 2.79Kg |
电源 | AC220V |
单位转换 | 通过一个按键实现英制和公制的自动转换 |
单位 | 可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位 |
接口 | RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机 |
显示 | 带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素 |
统计显示 | 测量个数,标准差,平均值,值,小值 |
统计报告 | 需配置串行打印机或PC电脑下载,存储位置,测量个数,铜箔类型, |
线形铜线宽,测量日期/时间,平均值,标准差,方差百分比,准确度, | |
值,值,值域,CPK 值,单个读数,时间戳,直方图 | |
图表 | 直方图,趋势图,X-R 图 |