一、产品简介
    BMH-J3数显薄膜测厚仪：本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。 尤其适用于薄膜 ,是实验室常用的检测工具。
二、技术指标
    本品测量范围：（0-25）mm
    分 辨 率：0.001mm
    测厚仪工作温度： 0℃～+40℃
    储运温度：-20℃～+70℃
    环境相对湿度： ≤80%