Park XE-15具有全面的样品兼容性。其多种样品台设计，为不同尺寸、形状、数量的样品提供了方便可靠的测试环境。解耦合的闭环XY扫描器，消除了弯曲效应误差，提供了无与伦比的线性度。真正的非接触扫描模式，扩大了适合样品种类，同时极大地延长了探针寿命，降低了使用成本。

仪器简介:

Park XE-15具有全面的样品兼容性。其多种样品台设计，为不同尺寸、形状、数量的样品提供了方便可靠的测试环境。解耦合的闭环XY扫描器，消除了弯曲效应误差，提供了无与伦比的线性度。真正的非接触扫描模式，扩大了适合样品种类，同时极大地延长了探针寿命，降低了使用成本。

 

技术参数：

扫描器

XY扫描器

柔性制导闭环控制单模块扫描器

扫描范围100μm*100μm（可选50μm*50μm）

平面偏移度:<2nm（40μm*40μm扫描）

 

Z扫描器

柔性制导强力扫描器

扫描范围12μm（可选25μm）

共振频率：>5kHz

表面成像噪声：0.03nm

 

样品台

样品台种类：16位点样品台/150mm直径真空吸附台（可选200mm直径真空吸附台）

样品尺寸： 150mm*150mm*20mm

样品重量：500g

样品台移动范围：150mm*150mm（可选200mm*200mm）