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电子连接器寿命插拔实验
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发布日期:2017/8/16 14:46:25
更新日期:2017/8/16 14:46:25
详细内容
连结器寿命测试连接器寿命试验/ 插拔试验 (Connector Life Test/ Durability)模拟连接器多次插拔动作,了解连接器内部机构件及弹片表面,是否在经过测试后有异常磨耗损坏现象,导致功能异常失效。规格 速率: Max 5 cycle/second?参考规范 EIA-364-09C关于宜特:iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。