产品介绍
德国马尔M2粗糙度仪
价 格：￥1
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产品完善度：
生产地：其他访问量：150次
发布日期：2010/4/20 12:19:00
更新日期：2010/4/20 12:19:00
详细内容
此仪器的操作是基于久经验证的强大功能t, 使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2 让您得到到的测量功能和高效的测量灵活性.
与Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的, MarSurf M2 提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测, 垂直显示比例的调整, 用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置.
| 特点 · 测量范围高达150 µm （6000 µin） · 测量单位 µm/µin 可选 · 评定标准: DIN/ISO/JIS 和CNOMO （Motif） 可选 · 依照 DIN EN ISO 4288/ASME B461标准的测量长度选择: 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm （0,07 in; 0,22 in; 0,7 in）;依照 EN ISO 12085标准: 1 mm; 2 mm; 4 mm; 8 mm; 12 mm; 16 mm · 截止波长可从 1 至5自由选择 · 完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择 · 依照 DIN EN ISO 11562 标准的相位修正轮廓滤波器 · 可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm （0,01 in/0,032 in/0,100 in） · 可选择短截止波长 · 依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数: Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 依照 JIS标准的评定参数: Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 标准的评定参数: R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL （3-区域测量） · 可显示公差及输出测量报告中 · 显示比例可自动或手动选择 · 可打印R-轮廓（ISO/JIS）, P-轮廓（Motif）, 材料率曲线, 等测量报告 · 测量报告可输出测量日期及时间 · 内置存储卡可存储200组测量数据 · 动态传感器校准 · 锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护 应用 |
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| · 轴类, 外壳, 大体积的机械机架 · 汽车业应用, 如凸轮轴和曲轴测量和/或其他需要横向测量的位置 · 可在生产线上使用，实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量 |
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| 测量工作站组件 M 系列由坚固的专用测量工具箱保护, 里面包含: · M2评定单元 · PFM 驱动器 · NHT 6-100 传感器 · 通用 90-264 V电源适配器 |
