集天瑞多年贵金属检测技术的经验，EDX600B使用高效而实用的正比计数盒探测器，以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件控制移动平台和激光定位装置，使样品上测试点的选择更方便和准确；功能齐全的测试软件、友好的操作界面，使测试工作轻松完成。