产品介绍
x射线镀层测厚仪
价 格:¥1
型 号:iEDX-150T
产品完善度:
生产地:其他访问量:0次
发布日期:2019/5/29 16:46:57
更新日期:2019/5/29 16:46:57
详细内容
1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。
2. 仪器尺寸:618*525*490mm,样品移动距离:160*150*90mm。
3. 激光定位和自动多点测量功能。
4. 可检测固体、粉末状态材料。
5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
9. 软件终身免费升级。
10. 无损检测,一次性购买标样可永久使用。
11. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。
12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
可进行RoHS检测(选配功能),应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析
(二)产品特征
1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
3. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析,可以增加RoHS检测功能。
4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给.
Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
1. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
2. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。