详细介绍

　　XS Microbalances

　　XS微量天平

　　具有*可读性的双量程技术。

　　1μg可读性，1μg重复性，zui大秤量为800 mg

　　小于0.8ug的重复性对于获得更优称量可靠性来说至关重要的。XS微量天平可减少不必要的重复测试以及对昂贵样品的浪费，同时可保证在称量zui小的微量样品时也具有准确的称量结果。

　　可再现的结果

　　易于操作

　　具有可定制化的XS触摸终端可确保操作更加简单、直观及无差错。

　　易于操作

　　用户指导过程管理

　　梅特勒-托利多的LabX®实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的SOP用户指南。利用自动数据处理、计算和报告，具有LabX软件的天平可以轻松实现​​过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。

　　用户指导过程管理

　　扩展更加智能

　　每个XS微量天平可以根据应用要求进行优化。即使在恶劣的称量条件下，U型去静电装置电极等配件依然可确保您称量结果的准确性与再现性。

　　扩展更加智能

　　产品和规格

　　XS微量天平

　　XS3DU

　　分辨率10µg;1µg

　　可读性10µg;1µg

　　合法交易No

　　尺寸(高x宽)113 mm x 128 mm

　　zui大秤量3.1 g/800 mg

　　zui小称量值(USP)，典型值1 mg

　　校正内部/FACT

　　秤盘直径27 mm

　　稳定时间6 s

　　线性误差（典型值）±4µg

　　重复性（典型）0.5µg

http://www.chem17.com/st303830/erlist_1101401.html 

http://www.chem17.com/st303830/product_19762115.html