高温四探针测试仪用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
型号及参数：
规格型号 BEST-351B
1.方块电阻范围  10^-6～2×10^5Ω/□
2.电阻率范围 10^-7～2×10^6Ω-cm
3.测试电流范围 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.电流精度 ±0.1读数
5.电阻精度 ≤0.3%
6.PC软件界面 显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 双电测量
8.四探针仪工作电源 AC 220V±10%.50Hz  <30W
9.误差 ≤3%（标准样片结果）
10.温度(选购) 常温－－200℃;400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
11.气氛保护（气体客户自备） 常用气体如下：氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均为无色、无臭、气态的单原子分子
12.温度精度 冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C
13.升温速度： 常温开始400℃－－800℃需要15分钟；800℃-1200℃需要30分钟；1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟
14.高温材料 采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征
15.PC软件
 测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！
16.电（探针）材料标配  钨电或钼电+电（探针）陶瓷管 +高温陶瓷样品台，1套.
17.探针间距  直线型探针，探针间距：4mm；
18.样品要求 样品长度要求≥13mm  样品宽≥2mm或直径≥13mm
19.高温电源：
 供电：400-1200℃ 电源220V，功率2-4KW；380V;1400℃-1600℃电源380V；功率4-6KW：
20.标配外（选购）： a电脑和打印机1套；b.标准电阻1-5个；
c.S型铂铑探针电（温度范围：200-1300度）；
d.B型铂铑探针电（温度范围：1400-1600度）标准配置外订购明细：
序号 品名 单位 数量 备注
1 测试线 套 1 4条为1套
2 标准电阻 个 1-5 选购规格和数量
3 高温陶瓷样品平台 套 1 适用于固态样品；温度≤1200度
4 高温陶瓷样品平台 套 1 适用固态、液体样品；温度≤1200度
5 高温陶瓷样品平台 套 1 适用于固态样品；温度≥1300度
7 高温陶瓷样品平台 套 1 适用固态、液体样品；温度≥1300度
8 钨电组合4根 组 1 陶瓷+钨针一组4根;温度≤1200度
9 S型铂铑电组合4根 组 1 陶瓷+铂铑一组4根;温度≤1300度
10 B型铂铑电组合4根 组 1 陶瓷+铂铑一组4根;温度≤1700度
11 刚玉坩埚 个 1 消耗品；
12 刚玉陶瓷管4根 组 1 4根为一组
13 分析软件 套 1 
14 电脑+打印机 套 1 依据客户要求配置
15 检测技术服务 份 1 计量证书1份
16 高温手套 双 1 
17 高温坩埚钳 把 1 
18 高温升降装置 套 1 
 延保服务   年 1-3