电镀膜厚测量仪针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构.电镀膜厚测量仪的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。可以同时间测量多至层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是多测量两个正离子的药水浓度测量分析。电镀膜厚测量仪在不使用标准片做校正的情况下可达到一个相当不错的测量结果。菲希尔XULM 膜厚仪主要应用于小五金的测量（如：小螺丝、手表、眼镜、端子），大面积的样品（如：线路板）.

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