膜厚分析仪结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。膜厚分析仪具备手动的测量台，可移动的范围是50MM*50MM，不需要打开测量门便可以移动不同测量，更方便操作。膜厚分析仪测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量。

让客户满意，为客户创造的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子华南地区总代理 吴小姐 手机：1 3 6 0 3 0 3 6 7 1 5    TEL：2 9 3 7 1 6 5 1  FAX：2 9 3 7 1 6 5 3 QQ：1 3 5 1 7 9 1 4 6 6  邮箱：www.kinglin5158@163.com   地址：宝安中心区宏发中心大厦