OPTOPLEX适用干真空镀层车间的测量及分析系统，它适用干真空器内，是无接触、无破坏的光谱测量系统，传送颜色数据，结果都适用干品质的认证及生产过程的优化分析。

OPTOPLEX适用干真空镀层车间的测量及分析系统，它适用干真空器内，是无接触、无破坏的光谱测量系统，传送颜色数据，结果都适用干品质的认证及生产过程的优化分析。OPTOPLEX II P 是专为真空的传送数据而设计的，适用於建筑玻璃、汽车车头（挡风）玻璃、显示器玻璃、亚加力玻璃胶片或塑胶薄膜等工业。系统分别可作单或双镀层的膜厚。

由於系统於镀层生产线上自动收集及传送测量数值，然後显示其电脑图表及数值，系统适合真空房内的玻璃镀层的品质管理。软件包含光谱显示、一个或多光谱趋向的平台。系统传送决定於不同基本光源（A, C or D 65） 及观看角度 （2°或10°） ，使测量光谱曲线修改至符合CIELAB 数据，程式能处理多至10台。

测量速度多至100 点/分钟按型号规格决定，OPTOPLEX Q 规格H、B、C 等，可安装多至3 个量度头2X 反射，1X 透射TUNGSTEN 或 XENONPULSED LAMP波长范围 380-900nm选配 400-1700nm

• 范围： 380 ... 900 nm
• 清晰： 10 nm
• 分光计： 敏二极管排栅分光光度计
• 光源： 卤灯
• 色彩数据： Y, L＊, a＊, b＊ （CIELAB）
• 基本光源： A, C, D 65
• 展示： 光谱曲线、不同的模式趋向分析