铝制保护膜，包括氧化铝、其他铝镀膜及含特性的保护膜等，生产时品质必须受控，保证该薄膜面可符合各种国际规定的功能标淮。在连续生产过程中，要测试样品，可用抽检方式或在线测量。跟据这镀层车间的检查数据的回归，可以快速执行相应操施，例如重置机器操作设定，减少成本（包括品质及材料消耗） 。但这量度程序只适用于透明层料，不适用于广泛四散层面。

铝带或铝片的镀层是以反射光测量，白光干涉由反射信号产生。此光学镀层厚度是应用FFT 式运算法则，结果非常可靠。而这几何光学层厚测量是决定于光学、几何厚度及折射值功能 n=f （波长）之间的关系。 数值结果有很高的重复性及绝对准确。由于蔡司使用了极佳的光学配件及高热量稳定的二极管阵列式的多色仪。薄层厚度在 <500nm 间都可以测量，软件可执行校准及自动控制。这些方法亦可应用于其他镀层产品。

系统

蔡司提供两种测量方法：一是带光纤线的MCS600 系统；另一种是下带光纤线的CORONA 系统。两者都是二极管阵列式的多色仪、多通道式设计，波长分辨率分别为0.8nm/pixel 及3.3nm/pixel，连接插头有RS422、4-20mA、RS232 及RS485。激发输入及输出点皆可选用，系统以电脑操作，多台光谱仪可叠层连接，以一台电脑操作，因此可见及NIR 光谱可同时出现於显示器上。

软件

一个可选购配置的软件 ASPECT PLUS Windows 基本软件 （支援 Windows 软件） ，可配合镀层厚度插入软件使用。若有特别需要，我们可以为编写其应用软件，以 LabVIEW 编写。DLLs 的 C++ 和 LabVIEW 驱动程式容许客户编写自已程式，与我们的测量系统完全配合。

优点

• 快速及高精度量度

• 极高的镀层厚度重复性

• 已确识及测试的测量技术

• 高可靠性及低维修要求，这由于没有可移动部件

• 容易使用软件

• 快速提供详细光谱资料

• 富弹性安装，可使用光纤连接或无光纤技术及一系列配件

• 可分别量度几个不同点，配光纤多路器或穿越器

• 可直接用穿越器与无光纤系统联系

规格

• 波长范围 200–1020nm （900–1700nm 选配或层叠）

• 波长清晰度 0.8nm/Diode （2.4 nm Raleigh） / 3.3nm/diode （10nm Raleigh）

• 波长重复性 <0,05 nm

• PC 介面 CORONA 可选用RS 422; RS 232 res. RS 485

• PC 与系统距离 基本电线可延伸至 80 m, 使用光导传送可延伸至 2.5km

• 光纤石英，600μm 蕊，SMA 连接

• 架 19" 箱或19" 架；19" 保护箱；Corona （无光纤）铁箱