产品介绍
RoHS 和WEEE 应用--Quant’X 荧光能谱仪
价 格：￥电议
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产品完善度：
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发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
 仪器简介 |
任何使用者均能够感受到如下优点：
● 从na 到u 的痕量分析的无可比拟的灵敏度
● 较高的分析速度，对工艺过程控制特别有利
● 非常高级的分析软件，有多种选择，对难于找到标准的应用，可以使用不类似标样和纯元素为标样，得到可以接受的结果
● 样品操作的灵活性
● 机械结构简单、可靠
● 紧凑，便于现场测量进行的运输
● 现场安装快速、方便 |
| 应用报告举例 |
元素 | 已知值ppm | edxrf测得值ppm | edxrf测得值ppm | | cr | 50
200 | 50.4
201.5 | 49.5
206.2 | | cd | 5
20 | 5
20.2 | 22.7
49.9 | | hg | 50
200 | 50.2
200.5 | 49.9
202.1 | | pb | 50
200 | 50
200 | 51.9
189.7 | | br | 50
200 | 48.6
200.5 | -
- |
注：1、重量法配置,粉末过400 目筛,混匀,压成片
2、取0.100g,微波消鲜,定容后测试
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| 主要特点 |
1.极高的痕量分析的灵敏度，打破了1ng的检测限壁垒。
2.第三代电制冷si(li) 探测器
3.快的数字脉冲处理器和高级的分析软件
4.样品操作灵活，简便
5.方便快捷的运输和移动 |
