[EP3] 德国nanofilm公司于1991年开发出了世界上台Brewster角显微镜(BAM)，该仪器主要用于薄层膜的观察。近几年来，nanofilm又相继推出了不同用途的BAM产品以及相应的配套仪器，其新款的EP3椭圆偏振成相系统把椭圆偏振法与显微镜法相结合，为其进入到生物分析和微电子等新的研究领域提供了可能。 应用领域： 椭圆光度法是一种非破坏性和无需标记的、用于确定膜厚和材料光学特性的方法。通过把椭圆光度法与显微镜法相结合，影像椭圆光度仪不断改进，平面精度已经能够达到1μm，立体精度已提高到1nm，为其进入到生物分析和微电子等新的研究区域提供了可能。EP3是德国nanofilm公司近推出的新一代椭圆光度仪产品。主要应用于以下各种尖端领域： 生物芯片：同次性、膜厚、杂交、动力学等测量 LB/单层/自组合单层膜/活性剂：检测LB膜的结构、单层膜厚度、界面吸附等 接触印刷：小于1μm微结构的质量控制、膜厚测量、测量折射率和吸附 磁盘：同次性、膜硬度 (油)膜厚度、光学产品磁光学结果的观察 纳米粒子：纳米粒子上的一小块区域、折射率和吸附的分布 聚合物：膜厚、折射率和吸附测量 主要特点 采用高精度回零椭圆光度法 出色的空间分辨率(1μm), 大面积图像椭圆光度法（多达若干cm2） 单一或多重的激光波长 新颖的自动测角计，用于入射角调整n EP3View专用软件，用于仪器控制和基于Windows?的数据分析 多重关注区域及Δ，Ψ绘图n 可通过局部网络实现远程控制和服务 技术参数 原理 PCSA 配置的自动回零（ Auto-Nulling ）图像椭圆光度法 椭圆光度分辨率 Delta/Psi 精度 0.001 deg 　　绝对精度 0.01 deg （依赖于样品与测量条件） 立体分辨率 1~35μm （平面解析精度： 1μm ，纵向解析精度： 1 nm ） 激光器波长 标准为 : 532 nm 　可选 405, 488, 514, 543, 594, 633, 650, 690, 785, 830, 905, nm 灵敏度 0.05~0.2nm 解析时间 快， 22×73mm 在 1.2μm 精度下只需不到一分钟的时间 图像系统 768 x 572 像素 CCD 照相机 电子组件 内置基于 Pentium 芯片的控制器，带 Matrox Meteor II 抓图器； 内置 Linux 操作系统；通过专用 100M 以太网与主机相连 电源 电压： 100 – 240 VAC, 50/60Hz 电流 : 10 A