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日本电子株式会社北京事务所

产品介绍

X荧光元素分析仪

价 格:¥电议

型 号:

产品完善度:

生产地:其他访问量:1062次

发布日期:2009/11/2 0:00:00

更新日期:1900/1/1 0:00:00

详细内容

技术参数 

1.检测元素范围 Na--U。
2.X射线发生装置5-50kV,10mA,50W,靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.试样舱300mm直径X150mm高。
5.电脑操作Windows2000,标配软件。 
主要特点

1.一次性分析微量的Cd,Hg,Cr
2.分析速度快Cd40ppm 10sec.10ppm,2min.
3.单键完成操作。
4.配备环境分析软件
5.灵敏度高,能做100kcps测定 
 

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仪器介绍

JSX-3202EV环境分析用元素分析仪、应对EU(欧盟)电器及电子设备废料回收(WEEE)和特定有害物质的使用限制(RoHS)指令。 
采用新式光学系统(正在申请专利)、高能X射线发生源、高分解能探测器,可以检测塑料、包装材料、颜料中镉(Cd)、铅(Pb)、水银(Hg)、铬(Cr)等特定有害物质和砷(As)等有毒物质,检测精度达到ppm数量级。 
塑料中极微量的镉的分析精度达到5ppm,标准试样的分析精度达到2ppm(日本电子(株)应用研究中心测量值)。搭载环境分析用软件,从检测、分析到判断是否合格只需单键就可实现,操作简单,非常适合检测机关、质保部门使用。 

 

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