产品介绍
X-射线能谱仪
价 格:¥电议
型 号:GENESIS
产品完善度:
生产地:其他访问量:697次
发布日期:2009/11/2 0:00:00
更新日期:1900/1/1 0:00:00
详细内容
技术参数
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1
2.检测元素范围Be4 - U92
3.计数率500,000cps
4.图象采集分辨率8192x6400象素
5.面分布图采集分辨率2048x1600象素
主要特点
1.探头指标高,性能好,寿命长。
2.全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高。
3.具有操作引导的集成式界面,使用直观方便。
4.具有多种专有技术软件,分析精度高。
5.软件种类及功能丰富,且具有报告生成系统。
仪器介绍
GENESIS能谱仪是高性能能谱仪的代表,其秉承了EDAX公司PHOENIX能谱仪指标高、性能好、寿命长,使用方便的特点,并更上一层楼。EDAX能谱仪已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜,并且可以同EDAX公司的OIM(电子背散射衍射取向成像分析系统)和ACT(自动晶体学分析系统)构成一体化分析系统。
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1
2.检测元素范围Be4 - U92
3.计数率500,000cps
4.图象采集分辨率8192x6400象素
5.面分布图采集分辨率2048x1600象素
主要特点
1.探头指标高,性能好,寿命长。
2.全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高。
3.具有操作引导的集成式界面,使用直观方便。
4.具有多种专有技术软件,分析精度高。
5.软件种类及功能丰富,且具有报告生成系统。
仪器介绍
GENESIS能谱仪是高性能能谱仪的代表,其秉承了EDAX公司PHOENIX能谱仪指标高、性能好、寿命长,使用方便的特点,并更上一层楼。EDAX能谱仪已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜,并且可以同EDAX公司的OIM(电子背散射衍射取向成像分析系统)和ACT(自动晶体学分析系统)构成一体化分析系统。