产品介绍
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
价 格：￥电议
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发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
技术参数
1.空间分辨率：使用25千伏Ga脉冲离子束，使用PHI提供的监测结构，空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下，*2 mamu，在大于m/z = 100，<10 ppm
3.传输率: 40%的原子，90%的分子，数值由离子光学模拟计算得出。
主要特点
1.标准配置In,Ga离子枪，还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度，高成像清晰度，无阴影效应
3.动态范围宽
1.空间分辨率：使用25千伏Ga脉冲离子束，使用PHI提供的监测结构，空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下，*2 mamu，在大于m/z = 100，<10 ppm
3.传输率: 40%的原子，90%的分子，数值由离子光学模拟计算得出。
主要特点
1.标准配置In,Ga离子枪，还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度，高成像清晰度，无阴影效应
3.动态范围宽
