产品介绍
NanoFirst-2000型原子力显微镜
价 格：￥电议
型 号：
产品完善度：
生产地：其他访问量：507次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
特点
激光反射式检测工作模式
AFM接触式形貌测量，原子力曲线采集显示
STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能
特殊设计液体池，具备液体中AFM成像能力
深度陡度测量，三维显示
纳米材料粗糙度测量，颗粒粒径度量及分布统计
实时观测比照的形貌图、摩擦力图、静电力图、磁力图
实时多通道剖面图显示
为教学和研究设计，国内小型化结构，携带十分方便
DSP全数字化控制，操作简洁直观
控制主机可以采用笔记本电脑，适合课堂现场演示
XY二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
Windows全中文控制软件，面向对象设计
提供实验标准光栅、云母和HOPG样品
配有详尽的实验教学指导教程
组合光学连续变倍显微镜，独特的双光路照明，样品观测范围从1nm到20mm
360°全方位彩色CCD成像系统，方便系统调整，可实时样品录像
标准RS232串行接口或USB接口，无需任何计算机卡，安装简单迅速
技术指标
探头：
样品尺寸：≤Φ30mm
样品厚度：≤15mm
XY扫描范围：标准配置6μm×6μm，可选3μm×3μm， 10μm×10μm，
20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm
XY向分辨力：0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)
Z向分辨力：0.03nm(AFM,云母定标)，0.01nm(STM,HOPG定标)
XY二维样品移动平台范围：0~5mm，精度0.5μm
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
仅需更换探针架，即可切换STM和AFM模式
电化学针尖块，液体池，液体成像功能(选配)
44～283X连续变倍彩色CCD观察显微系统(选配)
全金属屏蔽防震隔音箱(选配)
精密隔震平台(选配)
极限真空度：10-6托(NanoFirst-2200型)
抽速：每分钟40升(NanoFirst-2200型)
电子学控制器：
XYZ控制：18-bit D/A
数据采样：14-bit A/D 、16-bit A/D多路同步采样
Z向反馈：DSP数字反馈
反馈采样速率：64.0kHz
高压放大器：集成高压运算放大器，电压范围±150V
扫描速率：21Hz
扫描角度：0~360°
扫描偏移：任意
图像采样点：256×256或512×512
步进马达控制：手动和自动进退
计算机接口：标准RS232串行口/USB
计算机软件：
运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统，标准视窗工作界面
AFM接触模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能
STM恒流模式、恒高模式功能(STM)
多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图
智能识别和控制系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数
DSP全数字控制的参数设置和采集
AFM激光检测系统的实时调整功能
原子力-间距（F-Z）曲线测量功能
电流-电压隧道谱（I-V曲线）测量功能(STM)
隧道电流-间隙（I-Z曲线）测量功能(STM)
静电力成像模式功能（选配）
磁力成像模式功能（选配）
支持步进马达自动驱进到扫描器中心
支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能
实时调整本底及比例
定点实时测试I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)功能
鼠标控制扫描区域平移、剪切功能
用户任意定义调色板功能
图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能
图像在线浏览，连续图像获取文件动态重现，纳米电影功能
图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式（选配）
完备的在线式智能提示及全程帮助
样品粒度、粗糙度分析
标准离线分析和处理功能
增加第二显示器（选配）
激光反射式检测工作模式
AFM接触式形貌测量，原子力曲线采集显示
STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能
特殊设计液体池，具备液体中AFM成像能力
深度陡度测量，三维显示
纳米材料粗糙度测量，颗粒粒径度量及分布统计
实时观测比照的形貌图、摩擦力图、静电力图、磁力图
实时多通道剖面图显示
为教学和研究设计，国内小型化结构，携带十分方便
DSP全数字化控制，操作简洁直观
控制主机可以采用笔记本电脑，适合课堂现场演示
XY二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
Windows全中文控制软件，面向对象设计
提供实验标准光栅、云母和HOPG样品
配有详尽的实验教学指导教程
组合光学连续变倍显微镜，独特的双光路照明，样品观测范围从1nm到20mm
360°全方位彩色CCD成像系统，方便系统调整，可实时样品录像
标准RS232串行接口或USB接口，无需任何计算机卡，安装简单迅速
技术指标
探头：
样品尺寸：≤Φ30mm
样品厚度：≤15mm
XY扫描范围：标准配置6μm×6μm，可选3μm×3μm， 10μm×10μm，
20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm
XY向分辨力：0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)
Z向分辨力：0.03nm(AFM,云母定标)，0.01nm(STM,HOPG定标)
XY二维样品移动平台范围：0~5mm，精度0.5μm
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
仅需更换探针架，即可切换STM和AFM模式
电化学针尖块，液体池，液体成像功能(选配)
44～283X连续变倍彩色CCD观察显微系统(选配)
全金属屏蔽防震隔音箱(选配)
精密隔震平台(选配)
极限真空度：10-6托(NanoFirst-2200型)
抽速：每分钟40升(NanoFirst-2200型)
电子学控制器：
XYZ控制：18-bit D/A
数据采样：14-bit A/D 、16-bit A/D多路同步采样
Z向反馈：DSP数字反馈
反馈采样速率：64.0kHz
高压放大器：集成高压运算放大器，电压范围±150V
扫描速率：21Hz
扫描角度：0~360°
扫描偏移：任意
图像采样点：256×256或512×512
步进马达控制：手动和自动进退
计算机接口：标准RS232串行口/USB
计算机软件：
运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统，标准视窗工作界面
AFM接触模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能
STM恒流模式、恒高模式功能(STM)
多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图
智能识别和控制系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数
DSP全数字控制的参数设置和采集
AFM激光检测系统的实时调整功能
原子力-间距（F-Z）曲线测量功能
电流-电压隧道谱（I-V曲线）测量功能(STM)
隧道电流-间隙（I-Z曲线）测量功能(STM)
静电力成像模式功能（选配）
磁力成像模式功能（选配）
支持步进马达自动驱进到扫描器中心
支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能
实时调整本底及比例
定点实时测试I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)功能
鼠标控制扫描区域平移、剪切功能
用户任意定义调色板功能
图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能
图像在线浏览，连续图像获取文件动态重现，纳米电影功能
图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式（选配）
完备的在线式智能提示及全程帮助
样品粒度、粗糙度分析
标准离线分析和处理功能
增加第二显示器（选配）
