特点

为教学设计，国内小型化结构，携带十分方便
DSP全数字化控制，可选线性和对数反馈模式
STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能
控制主机可以采用笔记本电脑，适合课堂现场演示
深度陡度测量，三维显示
纳米材料粗糙度测量，颗粒粒径度量及分布统计
实时观测比照的形貌图、隧道电流图
实时多通道剖面图显示
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
XY二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域
标准RS232串行接口，无需任何计算机卡，安装简单迅速
Windows全中文控制软件，重在展示工作原理
提供实验标准光栅 和HOPG样品
配有详尽的实验教学指导教程
可选配纳米刻蚀功能模块

技术指标

（一）STM探头：

样品尺寸：≤Φ30mm
样品厚度：≤15mm
XY扫描范围：标准配置6μm×6μm，可选3μm×3μm， 10μm×10μm，20μm×20μm，50μm×50μm
XY向分辨力：0.1nm
Z向分辨力：0.01nm(HOPG定标)
样品-针尖白光照明
XY二维样品移动平台范围：0~5mm
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
全金属屏蔽防震隔音箱(选配)
精密隔震平台(选配)

（二）电子学控制器：

XYZ控制：18-bit D/A
数据采样：14-bit A/D
Z向反馈：DSP数字反馈(可选线性和对数反馈模式)
反馈采样速率：64.0kHz
高压放大器：集成高压运算放大器，电压范围±150V
扫描速率：21Hz
扫描角度：0~360°
扫描偏移：任意
图像采样点：256×256或512×512
步进马达控制：手动和自动进退
计算机接口：标准RS232串行口

（三）计算机软件：

运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统，标准视窗工作界面
STM恒流模式、恒高模式功能
单和双通道图像同步采集显示，实时查看剖面图
DSP全数字控制的参数设置和采集
电流-电压隧道谱（I-V曲线）测量功能
隧道电流-间隙（I-Z曲线）测量功能
支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能
实时调整本底及比例
定点实时测试I-V、I-Z曲线
鼠标控制扫描区域平移、剪切功能
用户任意定义调色板功能
图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能
图像在线浏览功能
连续图像获取文件动态重现，纳米电影功能（选配）
图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式（选配）
完备的在线式智能提示及全程帮助
样品粒度、粗糙度分析
标准离线分析和处理功能
增加第二显示器（选配）