产品介绍
MicroNano 原子力显微镜
价 格：￥电议
型 号：AFM-III型
产品完善度：
生产地：其他访问量：352次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
简 介
这款机型除了拥有AFM-II型原子力显微镜的全部功能以外，主要增加了AFM侧向力/轻敲扫描模式(Tapping Mode)，特别适用于检测生物样品及其它柔软、易碎、粘附性较强的样品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌检测， I-V曲线测量， I-Z曲线测量，针尖修饰功能。AFM接触/非接触/侧向力/轻敲扫描模式形貌检测功能，划移扫描，F-Z曲线测量功能。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至磁力显微镜模式。
技 术 指 标
¨扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描/F-Z曲线
¨样品尺寸：≤Φ10mm
¨样品厚度：≤5mm
¨扫描范围：标准配置6μm×6μm
¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接触模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
¨XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
¨数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
¨扫描速率：20000 P/S
¨扫描角度：0~360°
¨图像采样点：256×256 / 512×512
¨马达控制：线动螺纹+自动马达，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨计算机接口：标准并行口
¨配套功能强大的MicroNano SPM 2.1软件系统
可 选 配 件 及 功 能 模 块
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm规格扫描器
¨高分辨CCD观测系统
¨高精度样品X-Y移动平台
¨MicroNano MFM-I型磁力显微镜功能模块
这款机型除了拥有AFM-II型原子力显微镜的全部功能以外，主要增加了AFM侧向力/轻敲扫描模式(Tapping Mode)，特别适用于检测生物样品及其它柔软、易碎、粘附性较强的样品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌检测， I-V曲线测量， I-Z曲线测量，针尖修饰功能。AFM接触/非接触/侧向力/轻敲扫描模式形貌检测功能，划移扫描，F-Z曲线测量功能。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至磁力显微镜模式。
技 术 指 标
¨扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描/F-Z曲线
¨样品尺寸：≤Φ10mm
¨样品厚度：≤5mm
¨扫描范围：标准配置6μm×6μm
¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接触模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
¨XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
¨数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
¨扫描速率：20000 P/S
¨扫描角度：0~360°
¨图像采样点：256×256 / 512×512
¨马达控制：线动螺纹+自动马达，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨计算机接口：标准并行口
¨配套功能强大的MicroNano SPM 2.1软件系统
可 选 配 件 及 功 能 模 块
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm规格扫描器
¨高分辨CCD观测系统
¨高精度样品X-Y移动平台
¨MicroNano MFM-I型磁力显微镜功能模块
