产品介绍
键盘寿命试验机
价 格：￥电议
型 号：HT-KEYB-001
产品完善度：
生产地：其他访问量：185次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
主要规格：动作行程：10mm（固定）
工件高低调整范围：100mm
夹具夹持能力：400＊300mm
测头安装范围：350＊250mm
试验次数：999999＊10次(可调)
试验速度：60~300Rpm(可调)
电压：AC220V或110V
选购：测头固定杆（标准附件5支可另选购）
定压荷重调整测头（标准附件15支可另选购）
手机测试治具(标准附笔记本治具可另选购)
荷重调整测头：
荷重围：50~450g或100~1000g
测头高低调整：15mm
两支测头小间隔：X方向10mm；Y方向12mm
本机器可测试NOTEBOOK（手机、PDA）之按键及各种按扭、开关之耐久寿命试验。可同时测试数个产品（每个产品均可多点测试）另每个按键可设定不同压力及不同高低。
主要规格：动作行程：10mm（固定）
工件高低调整范围：100mm
夹具夹持能力：400＊300mm
测头安装范围：350＊250mm
试验次数：999999＊10次(可调)
试验速度：60~300Rpm(可调)
电压：AC220V或110V
选购：测头固定杆（标准附件5支可另选购）
定压荷重调整测头（标准附件15支可另选购）
手机测试治具(标准附笔记本治具可另选购)
荷重调整测头：
荷重围：50~450g或100~1000g
测头高低调整：15mm
两支测头小间隔：X方向10mm；Y方向12mm
