产品介绍
SunScan 作物冠层分析系统,植物冠层分析仪,林地冠层分析仪
价 格:¥电议
型 号:
产品完善度:
生产地:其他访问量:230次
发布日期:2009/11/2 0:00:00
更新日期:2009/7/29 16:17:51
详细内容
SunScan 冠层分析系统
用途:
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
原理:
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
组成:
SS1探头:一支
SunData软件:用来对测量参数进行分析处理
BF3传感器:可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。
三角架:用来安放BF3
数据采集终端:采集和分析读数。
参数:
探测器工作区域:1000×
探测器光谱响应:400 ~ 700nm (PAR);
探测器测量时间:120ms;
探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1;
探测器读数:2500μmol.m-2.s-1
操作温度:0 ~
内存:
产地: 英国