产品介绍
萤光X-Ray膜厚仪
价 格：￥电议
型 号：
产品完善度：
生产地：其他访问量：1011次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
详细内容
萤光X-Ray膜厚仪说明：
1. 测量主机精巧,不占空间
2. 厚度测量极限:0.001um
3. 可测试单层膜厚、多层膜厚、化学镍层膜厚、锡铅合金层膜厚及组成比、元素分析
4. 准直器小孔径仅0.05φmm,可测量微小部品
5. 采用中文窗口软件,测定报告的撷取,非常简便
价 格：￥电议
型 号：
产品完善度：
生产地：其他访问量：1011次
发布日期：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
萤光X-Ray膜厚仪说明：
1. 测量主机精巧,不占空间
2. 厚度测量极限:0.001um
3. 可测试单层膜厚、多层膜厚、化学镍层膜厚、锡铅合金层膜厚及组成比、元素分析
4. 准直器小孔径仅0.05φmm,可测量微小部品
5. 采用中文窗口软件,测定报告的撷取,非常简便
