产品介绍
形状测量激光显微镜
价 格:¥电议
型 号:VK-X100/X200
产品完善度:
生产地:其他访问量:122次
发布日期:2011/12/20 23:16:30
更新日期:2012/1/6 16:38:16
详细内容
解决问题 | |
激光扫描显微系统可以解决所有的课题 | |
关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。 | |
使用激光显微系统则可全部简单地实现 | ||||||||||||||||||
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产品特性 解决问题
激光扫描显微系统可以解决所有的课题
关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。
使用激光显微系统则可全部简单地实现
光学显微镜 提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。
SEM 前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。
粗糙度仪 不能够实现一边放大观察,一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。
有限的分辨率和放大倍数 光盘坑 (6000 倍)
景深浅 刀尖 (1000 倍)
不支持可追溯性
高分辨率, 放大24000 倍 光盘坑(6000 倍)
完全聚焦的清晰图像 刀尖(1000 倍)
符合溯源性要求 使用 VK 系列获得的测量结果是高度可靠的测量数据,并且符合国家标准溯源性。