产品介绍
卓立汉光--太阳能电池QE/IPCE(量子效率)测量系统
价 格：￥电议
型 号：Solar Cell Scan 100
产品完善度：
生产地：其他访问量：62次
发布日期：2011/10/14 13:15:21
更新日期：2012/1/16 15:04:20
详细内容
| 测试原理 用强度可调的偏置光照射太阳能电池，模拟其不同的工作状态，同时测量太阳能电池在不同波长的单色光照射下产生的短路电流,从而得到太阳能电池的绝对光谱响应与量子效率。 Solar Cell Scan100系统组成 ■ 系统包括两个150Ｗ氙灯，分别做为探测光源和偏置光源（选配件）。 ■ 采用300mm焦距的三光栅光谱仪做为分光系统,保证良好的波长准确度和重复性，消除多级光谱的影响。 ■ 独特的测试光路，可同时实现响应度与镜面反射率的测试．对于漫反射样品的反射率测试，则采用积分球方式来实现，确保了测试的准确性．探测光光斑大小从3mm至10mm可调，以适合不同尺寸的样品测试。 ■ 样品台采用高精度二维平移机构，配有恒温（或变温）及真空吸附装置，变温范围可达到5～40度。 ■ 系统可工作于斩波模式与连续模式，斩波模式采用锁相放大器来实现数据采集，连续模式采用高精度直流放大器来实现数据采集。 ■ 采用二维高精度电控位移台可对电池样品进行Mapping扫描， ■ 专业软件，可实现一键自动完成响应度、反射率、QE及IPCE的测试。并可针对不同应用，自行设计测试流程。 |   |
Solar Cell Scan100特点
◆ 扫描光源波长输出范围:300-2000nm
Solar Cell Scan100不仅适合常规太阳能电池的性能研究，而且适合各类新型近红外太阳能电池材料性能的研究，真正实现了全光谱太阳能电池性能一体化测试。
◆ 扫描光源波长输出范围:300-2000nm
Solar Cell Scan100不仅适合常规太阳能电池的性能研究，而且适合各类新型近红外太阳能电池材料性能的研究，真正实现了全光谱太阳能电池性能一体化测试。
| ◆ 独有的垂直光路设计 独有的垂直光路设计，被测样品平面放置,不仅确保样品的稳定摆放，以保证测试的稳定性，而且更适合染料敏化电池的测试。 ◆ JSC模拟计算功能 ◆ 时间稳定度测试 ◆ 具有真空吸附及恒温保持功能的样品台（选配件） ◆ 测试光斑大小可调，适用不同尺寸样品的测试 |  |
a） 自动控制扫描、样品切换、光栅切换和数据采集
b） 测量光谱响应度、反射率、内量子效率、外量子效率、均匀度扫描等
c） 数据导出及报表打印功能，数据导出格式支持Office、Origin、matlab等分析软件
| ◆ 多结以及多层膜电池的测试 通过改变偏置光光强,来饱和各结太阳能电池，分析待测结太阳能电池量子效率。 | ◆ 反射率测量 系统提供镜面反射与漫反射测试选件，提供您完整的反射率测试分析手段。 | |
  偏置光平行光路 |   积分球漫反射测量 |
| ◆ 开放式偏置光路 偏置光路上预留光学元件的安装位置，您可自由改变偏置光的条件，可用于对太阳能电池缺陷做先期的分析。 ◆ 标准样品台 适用于样品尺寸相对固定的太阳能电池片的量测。可升级为变温或恒温样品台。 ◆ 变温样品台 在不同的温度下测量太阳能电池电流的输出，对太阳能电池在实际工作环境下是否存在缺陷做先期的分析。 ◆ 大面积太阳能电池片（156x156mm）的扫描检测,二维自动平移系统可实现对电池样品的各个位置做测量分析（选配件） 1.量子效率均匀性分析 2.反射率均匀性分析 |  标准与变温样品台  电控扫描样品台 |
| ◆ 斩波与连续两种测试模式，可实现常规光电池以及慢响应光电池的光谱响应测试 Solar Cell Scan 100 提供斩波模式QE/IPCE测量，可实现对多种太阳电池的测试（DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs），也提供连续模式配合暗室测量光电转换较慢的太阳能电池材料QE测量，如染料敏化与光化学太阳能电池材料量子效率测量。 |  |
Solar Cell Scan100 主要技术指标
| 项 目 | 指标和说明 |
| 150W氙灯 | 光学稳定度≦0.8%，可工作在斩波模式（适合常规单晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太阳能电池）与连续模式（适合慢响应染料敏化电池，有机太阳能电池） |
| 测试光斑尺寸 | 3mm~10mm |
| 三光栅DSP扫描单色仪 | |
| 波长范围 | 300nm～2000nm |
| 波长准确度 | a） ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b） ±0.6nm（600g/mm,500nm） c） ±0.8nm（300g/mm,1250nm） |
| 扫描间隔 | 小可至0.1nm |
| 输出波长带宽 | <5 nm |
| 多级光谱滤除装置 | 根据波长自动切换，消除多级光谱的影响 |
| 光调制频率 | 4 - 400 Hz |
| 标准样品台尺寸 | 164mmx164mm |
| 标准硅探测器 | 含校正报告 |
| 偏置光源 | 光强可调，可大于1个太阳常数（需选配） |
| 样品尺寸 | 156mm×156mm |
| 数据采集装置灵敏度 | a） 斩波模式：2nV；b） 连续模式：100nA |
| 测量重复精度 | 对太阳光谱曲线积分重复性在±1%以内 |
| 测试周期 | 单次扫描<1min，完整测试<5min （步长5nm） |
| 反射率测量 | 镜面反射 300-1100nm（需选配）；漫反射 300-1600nm（需选配） |
| 温度控制 | 恒温控制：25±1℃（需选配）；变温控制：5~40℃（需选配） |
| 3D Mapping | 156mm×156mm，100um分辨率 |
| 仪器尺寸 | 主机：842mm×770mm×575mm；控制柜：800mm×600mm×1300mm |
| Solar Cell Scan 100选购件列表 | |
| 型 号 | 说 明 |
| QE-A1 偏置光源附件 | 150W 高稳定氙灯，平行光路含滤光片支架，光稳定度≦0.8% |
| QE-C1 镜面反射率测试附件 | 含Si探测器，波长范围300-1100nm |
| QE-C2 漫反射率测试附件 | 含漫反射测量积分球，Si & InGaAs探测器，波长范围300-1600nm |
| QE-D1 二维电动样品台 | XY 二维电移台及控制驱动 |
| QE-F1 真空吸附样品台 | 156mm x156mm |
| QE-F2 恒温样品台 | 25 ℃±1℃，156mm x156mm |
| QE-F3 变温样品台 | 5-40 ℃，台面尺寸30 mm x30mm |
