XT-50型冲击试样缺口投影仪操作简便   138-6401-1025  佟彤
 一、主要用途及功能简介

   XT—50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T229—1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

 

二、工作原理

   本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

   根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通地一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

三、主要参数

   1、投影屏直径：                        180mm

   2、工作台尺寸

          方工作台尺寸：                  110×125mm

          圆工作台直径：                   90mm

          工作台玻璃直径：                 70mm

3、工作台行程： 

       纵向：                          ±10mm

       横向：                          ±10mm

       升降：                          ±12 mm   （无刻度）

4、工作台转动范围：                    0～360°（无刻度） 

5、仪器放大倍率：                      50x

       物镜放大倍率：                  2.5x

       投影物镜放大倍率：              20x

6、光源（卤钨灯）：                     12V     100W

7、电源：                              220V     50Hz

8、外形尺寸：                         515×224×603mm（长×宽×高）

9、重量：                              约18kg