XR-306能量色散X射线荧光分析仪
 分析原理：能量色散X射线荧光分析法
 分析元素：Na ～U任意元素
 检出下限(Cd/Pd)： Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm
 样品形状： 任意大小，任意不规则形状
 样品类型： 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
 X射线管靶材：Mo
 管电压：5～50 kV
 管电流： 1～1000 μA
 照射直径： 2、5、8mm自动转换
 探测器：Si(PIN)半导体致冷高分辨率探测器
 滤光片：八种新型复合滤光片自动选择
 样品定位： 微动载物平台（选配）
 样品观察：30倍彩色CCD摄像机
 微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）
 定量分析软件：理论α系数法定量软件
测试时间：60—200秒
数据处理：IBM PC/AT,256MB DDR,40GB,WIN XP
工作环境:温度10～35 ℃;30～70%R H
 電源: AC 220 V±10 %、50/60 Hz,1.1kW
 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm  40Kg