RF LCR表 
HP 4286A 
     Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。   
  
生产率高，质量可靠  
     4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。 
系统组建简单 
       测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。 
便于使用 
      8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。 
技术指标 
全面的技术指标参见数据资料表 
测量参数：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同时显示4种测量参数）。 
测试频率：1MHz～3GHz 
频率分辨力：100KHz 
测试信号： 
  V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz) 
  I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)  
电平监视功能：电压，电流  
基本的Z精度：±1.0% 
测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%) 
测量时间：每点9ms（速） 
Rdc测量：可用于触点检查 
校准：开路/短路/负载/低损耗电容量 
补偿：开路/短路,电长度 
大容量存储功能：30MB固态大容量存储或2 GB硬盘（选择选件） 
接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择)，处理器接口 
显示：8.4英寸彩色LCD显示器 
一般指标 
电源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax， 
工作温度/湿度:5℃～40℃,相对湿度20%～80% 
尺寸：234mm高×425mm宽×445mm深（主机） 
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头） 
主要技术资料 
4287A射频LCR测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E 
4287A技术指标：p/n 5968-5758E 
LCR测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E 

选件 
选件001删去16195B校准工具箱 
选件002删去测试夹具座 
选件003删去3.5mm～7mm适配器 
选件004增加工作标准套件 
选件010硬盘驱动大容量存储器 
选件011 固态大容量存储器 
选件020 增加电缆延伸套件 
可提供的附件 
16190B性能测试配件 
16195B 7mm校准工具箱 
16191A侧面电极SMD夹具 
16192A平行电极SMD夹具 
16193A小侧面电极SMD夹具 
16194A高温测试夹具 
16196A用于1608(mm)的平行电极SMD夹具 
16196B用于1005(mm)的平行电极SMD夹具 
16196C用于0603(mm)的平行电极SMD夹具 
19197A底面电极SMD夹具