电镀膜厚检测仪http://www.yiqi998.com/产品介绍：

　　Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。

　　X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

　　Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

　　样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。

　　设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

　　软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。

　　电镀膜厚检测仪产品指标：

　　测厚技术：X射线荧光测厚技术

　　测试样品种类：金属镀层，合金镀层

　　测量下限：0.003um

　　测量上限：30-50um（以材料元素判定）

　　测量层数：10层

　　测量用时：30-120秒

　　探测器类型：Si-PIN电制冷

　　探测器分辨率：145eV

　　高压范围：0-50Kv，50W

　　X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类;

　　光管靶材：Mo靶;

　　滤光片：专用3种自动切换;

　　CCD观察：260万像素

　　微移动范围：XY15mm

　　输入电压：AC220V，50/60Hz

　　测试环境：非真空条件

　　数据通讯：USB2.0模式

　　准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm

　　软件方法：FlexFP-Mult

　　工作区：开放工作区 自定义

　　样品腔：330×360×100mm

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