产品介绍
TH2825A
价 格:¥电议
型 号:TH2825A
产品完善度:
生产地:其他访问量:57次
发布日期:2015/6/3 14:53:27
更新日期:2015/8/3 13:55:09
详细内容
TH2825A 型高速LCR数字电桥的简要介绍:
■ TH2825A型高速LCR数字电桥是本公司重点推出的新一代元件参数测试仪器。该产品可提供高达15ms/次的测量速度、50Hz100kHz十点测试频率、以1mV步进的0.01V-1.0V可编程信号电平、5位读数分辨率、多种源内阻选择和强大的测试功能, 可满足生产线质量保证、进货检验及元件设计和评估的测量要求。
高速测量
■ 本产品运用了元件测试领域的新技术,测试能力可达到甚至超越Agilent 4363B的水平,提供了无与伦比的测量速度15ms/次,尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题,为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。
多种可选的信号源阻抗模式
■ 不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果,TH2825A提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要,保证不同仪表间测试结果的一致性。
恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量
■ 陶瓷电容器(MLCC)对测试信号电平极为敏感,TH2825A能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器,允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试,100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号,强大的变压器测试能力
■ TH2825A具备变压器测试能力,使用专门的变压器测试夹具,无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比(N, 1/N)、互感(M)、初次级电感(LA、LB),初次级直流电阻(DCR2)。有-5V-5V偏置电压(仅TH2825A),可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。
■ 该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent知名仪表接口兼容
TH2825A 型高速LCR数字电桥的技术参数:
型号 | TH2825A | ||
显示器 | 240x64点阵LCD显示器,5位读数分辨率 | ||
测试参数 | LCR 参数 | |Z|,R, X, G, B, C, L, Q, D, θ(deg),θ(rad),DCR | |
变压器参数 | DCR,DCR2,M, N,1/N,LA,LB | ||
测试频率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz, 40kHz, 50kHz,100kHz, 共10点 | ||
测试电平 | 10mVrms-1.0 Vrms, 1mV 步进<200mV 10mV 步进≥200mV | ||
信号源内阻 | 25Ω,100Ω, 25Ω/100Ω,C. V.(恒压) | ||
DC偏置电流(≥1kHz) | 当100Ω内阻时,±50mA Max当25Ω内阻时,±200mA Max | ||
基本测量准确度 | 0.1% | ||
| |Z|, R, X | 0.01 mΩ — 99.99MΩ | |
| G, B | 0.0001μS — 999.99 S | |
| C | 0.001pF — 1.9999 F | |
| L | 0.001μH — 99.9999 kH | |
| Q | 0.0001 — 9999 | |
显示范围 | D | 0.0001 — 9999 | |
θ(DEG) | -180.00° — 180.00° | ||
| θ(RAD) | -3.1415 — 3.1415 | |
| Δ% | -999.99% — 999.99% | |
| Turns Ratio | 0.001—9999.9 | |
| DCR | 0.1 mΩ—99.99 MΩ | |
| M,L2 | 0.001μH—99.99 kH | |
测量速度(≥100Hz) | 快速:15ms(注1),中速:66ms, 慢速:500ms | ||
等效电路 | 串联, 并联 | ||
量程方式 | 自动, 保持/手动切换 | ||
触发方式 | 内部, 手动, 外部,总线 | ||
平均次数 | 1—255 | ||
校准功能 | 开路, 短路, 负载校正 | ||
测量端 | 5端 | ||
显示方式 | 直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示) , 档号及档计数 | ||
列表扫描 | 4点频率, 电平列表扫描测试 | ||
比较器功能 | 九档(八档合格,一档不合格) | ||
上超/合格/下超比较器 | |||
存储器 | 12组内部仪器设定供存储/调用 | ||
接口 | RS-232C, HANDLER, GPIB (选件) | ||
| 4263B完全兼容,为与4263B的互换提供了良好的条件。 | ||
| 注1:快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示,快测试时间另加5ms。 |