半导体电阻率测试仪测量范围：M348877(MΩ) 电 源：M348877 测试电压：/(V) 精度：/ 重复误差：M348877 环境温度：/ 相对湿度：M348877，半导体电阻率测试仪可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm; 半导体电阻率测试仪长度：150mm(可扩展500mm)，半导体电阻率测试仪数字电压表：(1)量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V (2)测量误差：±0.3%读数±1字 (3)输入阻抗：大于108Ω (4)显示3 1/2 位红色发光二极管(LED)数字显示 0－－-1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示，公司生产的半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想工具。

　　半导体电阻率测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析

　　半导体电阻率测试仪主要技术指标:

　　电源：220V交流

　　可测晶片直径()Ф100mm,方形230×220mm

　　恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。

　　数字电压表：量程：0.1～200mV,分辨率：100μV

　　电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米

　　输入抗阻：0.2mV和2mV量程：>108Ω

　　测量精度：±0.1。

　　电阻测量误差(按JJG508-87进行)：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。

　　重掺检测误差(JJG508-87进行)：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

　　测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%

　　半导体电阻率测试仪将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。半导体电阻率测试仪因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。

　　半导体电阻率测试仪组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。半导体电阻率测试仪压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数。

　　资料出处：半导体电阻率测试仪http://www.chem17.com/st262489

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