Hitachi S-4800简介：

日本Hitachi公司生产S-4800型SEM，采用专利的E×B技术，可以分别收集和分离单纯二次电子、混合二次电子及背散射电子的信号。配有X-射线能谱仪，可在形貌观察的同时进行样品成分分析。

仪器主要配置：

X射线能谱仪，离子溅射仪，真空蒸镀仪，冷冻干燥机。

主要性能指标：

1. 二次电子分辨率：1.4nm（1kV，减速模式）；1nm（15kV）

2. 电子枪：冷场发射电子源

3. 加速电压：0.5 ～ 30 kV

4. 放大倍数：×20 ～ ×800,000

5. 探测器：低位/高位二次电子探测器

应用领域：

主要用于生物体、高分子、无机非金属、金属材料等样品的表面形貌观察及元素成分分析。广泛应用于生物、能源、材料、化工、环境等研究领域。