断热型比热测定装置SH系列

比热容量，潜热，变态点的测定

本装置是根据长崎减三，高木丰两位博士在1945年研究的测定方法而开发的设备。用独自研发的断热控制方式精确地测出热容量，潜热，变态点等。

●用途

对于各种材料的比热测定。
对于高分子材料的玻璃转移的测定。
对于固体反应，来自固体的液体反应速度的分析。

●特长

由于采用了断热控制，在基本平衡状态下进行测定。
基于比热容量测定原理，由内部微型加热器施加焦尔热，精确地测出试样温度的上升。

●技术指标