赛默飞世尔科技（原热电公司）推出新一代X射线微区分析系统： NORAN System SIX型能谱仪, 为微观结构研究的实验室获得佳的能谱分析能力。将EDS安装在电子显微镜上，和电镜（可以得到材料表面形貌等信息）配合一起使用，用以获得更深入的化学信息。应用创新的 Direct-to-Phase 软件，让EDS分析与样品的采谱同步，从而使NORAN System SIX 的分析功能更加强大。这种的技术可以在矿业、地质、金属产品、半导体和微电子行业、陶瓷、考古、纳米技术等众多领域得到广泛应用，科学工作者们因此得到更加有建树的论点。同时，30 mm²的技术与第三代电致冷探测器的完美结合, 提高了 NORAN System SIX系统检测效率，比传统的能谱仪快10倍。改进后的系统将会在微区分析中显露优势。

通常，对于需要花费很多时间的分析处理过程来说，传统的能谱仪要在运行了繁琐步骤后才能得出较好的分析结果。在分析过程中关键的地方，对样品成分做出主观判断，以及对能谱仪的操作都是必不可少的。而热电公司的NORAN System SIX，只需简单操作，就可以轻松完成从数据采集到智能的分析报告输出的工作。由于应用了Direct-to-Phase软件，系统不再进行统计上的和化合物重要信息的反馈。相反，研究人员可以真实地观察到数据的发展，然后再得到正确、有效的信息时再作出决定。

传统的EDS分析中，X射线微分析结合了带有图像信息的谱数据，就可以得到样品中每一种元素的空间面分布图。然而，材料通常都不会以简单的元素状态存在，而是以化合物组成，以空间的独特相形式存在。通过在spectral imaging全谱数据库中收集到大量的信息, 图像中的每一个x-y 点处都储存了一个完整的EDS谱图，NORAN System SIX 以相的形式来反映样品信息，而不只是元素浓度，这使得在分析中新的化合物独特的特征被鉴定出来并且能用面分布来表示。

NORAN System SIX 的设计适合众多行业的应用。 Direct-to-Phase 软件使研究人员在短的时间内获得后的分析结果。同时，使用单一的用户界面完成全部的操作，使传统的谱分析、X射线面分布和线扫描工具的使用更加方便；同时保留了使用spectral imaging 全谱数据的优点，比如不用重新调用样品就能从数据中提取出新的元素。NORAN System SIX 也使点分析更加方便，在 feature sizing中应用了化学分类的功能. 自动控制的功能不再需要设置采谱和分析参数(在反复试验操作中需要猜测 )。然而，当需要特殊操作时，科学工作者也可以手动设置采谱参数。

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