产品展示

• 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

  

  型号：￥：

  美国安普科技中心

  采购度：608次

• 扫描X射线微探针（XPS/ESCA)

  

  型号：￥：

  美国安普科技中心

  采购度：352次

• 多功能X射线光电子谱(XPS/ESCA)

  

  型号：￥：

  美国安普科技中心

  采购度：321次

• 转瓶机

  

  型号：￥：

  美国安普科技中心

  采购度：470次

• 场发射扫描俄歇纳米探针SAM

  

  型号：￥：

  美国安普科技中心

  采购度：547次